10P1 |
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GaMnNの光電子分光 |
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〇金正鎮1,牧野久雄1,陳平平1,
八百隆文1,小林啓介2,矢橋牧名2,
高田恭孝3,徳島高3,玉作賢治3,
石川哲也3,辛埴3
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1東北大金研,2JASRI,3RIKEN/SPring-8
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10P2 |
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Yb1-xYxInCu4 (x=0, 0.1)
のバルク敏感光電子分光と価数転移
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〇重本明彦1,菅滋正1,関山明1,
入澤明典1,山崎篤志1,桝田哲男1,
今田真1,室隆桂之2,斎藤祐児3,
張維4,吉村一良4
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1阪大基礎工,2JASRI,3原研関西,
4京大理
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10P3 |
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Cd2Re2O7の
バルク敏感光電子分光およびX線吸収分光
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〇入澤明典1,東谷篤志1,笠井修一1,
笹林武久1,重本明彦1,関山明1,
今田真1,菅滋正1,酒井宏典2,
大野浩之2,加藤将樹2,吉村一良2
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1阪大基礎工,2京大院理
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10P4 |
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Nd1-xSrxMnO3
におけるXAS-MCDの温度依存性
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○鴻池光一朗1,関山明1,山崎篤志1,
東谷篤志1,恒川雅典1,藤原秀紀1,
里中智哉1,今田真1,菅滋正1,
桑原英樹2,十倉好紀3,4,5
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1阪大基礎工,2上智大理工,3東大工,
4JRCAT,5CERC
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10P5 |
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NEXAFS分光法を用いたメロシアニン誘導体SAMの構造評価
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〇齋藤清範1,森下恭好1,坪井一真1,
松家則孝1,石井久夫2,大内幸雄1,
関一彦3,1,藤田克彦4,荒木暢5,
伊藤英輔6
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1名大院理,2東北大通研,3名大物質国際研,
4九大総理工,5McMster大,6理研フロンティア
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10P6 |
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BL15XUにおけるワイドオフセット回転傾斜配置二結晶分光器の特性
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〇二澤宏司,奥井眞人,八木信弘,水谷剛,Aurel Mihai Vlaicu,吉川英樹,福島整
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物材機構
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10P7 |
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放射光軟X線用YB66結晶の分光特性とその応用
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〇北村優1,吉川英樹1,望月哲朗2,
Aurel Mihai Vlaicu1,田中高穂1,二澤宏司1,
八木信弘1,奥井眞人1,木村昌弘1,
森孝雄1,新井正男1,福島整1
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1物材機構,2JASRI
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10P8 |
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SPring-8 BL15XUの高分解能蛍光X線分光装置
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〇福島整1,伊藤嘉昭2,A.M.Vlaicu1,
重岡伸之2,大橋浩史2,二澤宏司1,
吉川英樹1
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1物材機構物質研はりま,2京大化研
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10P9 |
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SPring-8におけるエネルギー分散型XAFS測定装置の現状
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○加藤和男1,宇留賀朋哉1,谷田肇1,
横田滋1,今井康彦1,梶原堅太郎1,
山片正明1,2
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1SPring-8,2理学メカトロニクス
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10P10 |
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シリコンドリフト検出器のSR-TXRFへの適用
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〇尾崎伸司1,野口真一2,飯原順次3,
竹村モモ子4,野中敬正5,出口博史6,
上村重明7
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1松下テクノリサーチ,2電力中研,3住友電工,
4東芝,5豊田中研,6関西電力,
7SES
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10P11 |
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薄膜・微量元素のXAFS測定における転換電子収量法と蛍光収量法の比較
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〇野中敬正1,河瀬和雅2,尾崎伸司3,
堂前和彦1,竹村モモ子4,三上朗5,
米山明男6,上村重明7
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1豊田中研,2三菱電機,3松下テクノリサーチ,
4東芝,5三洋電機,6日立,7SES
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10P12 |
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軟X線XAFS法によるSi系材料の構造評価
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伊東陽人,石野耕司,福井玄,吉川尚志,○岩崎博
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立命館大理工
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10P13 |
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転換電子収量法によるHf(Si)Ox薄膜の局所構造解析
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〇上原康1,河瀬和雅1,岡島敏浩1,
土本淳2,芝野照夫1
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1三菱電機先端総研,2三菱電機ULSI研
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10P14 |
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腐食の溶液化学反応のin situ - XAFS 観察
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○太田典明1,木村正雄2,金子道郎2
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1日鐵テクノリサーチ,2新日鐵
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10P15 |
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微量金属元素を添加した人工生成さびのXAFS法による局所構造解析
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〇稲葉雅之1,中山武典2,坪田隆之2,
石川達雄3,渡部孝1
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1コベルコ科研,2神戸製鋼材料研,3大阪教育大
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10P16 |
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鋼材保護性さび層の局所構造解析
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〇小西啓之1,山下正人2,橋田真一2,
内田仁2,水木純一郎1
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1原研関西,2姫工大院工
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10P17 |
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104Rfの化学挙動理解のためのTh, Zrの溶液内構造解析1
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〇矢板毅1,成田弘一1,2,永目諭一郎1,
塚田和明1,浅井雅人1,秋山和彦1,
豊島厚史1,羽場宏光3
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1原研,2産総研,3理研
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10P18 |
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水溶液表面の偏光全反射蛍光XAFS法の開発
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〇谷田肇1,渡辺巌2,永谷広久3
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1SPring-8,2大阪女子大理 ,3兵庫教育大自然系
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10P19 |
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鉄化合物におけるspin selectiveなK・X線発光分光
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〇山岡人志1,高廣克己2,森川司2,
川面澄2,大浦正樹1,向山毅3
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1理研播磨,2京都工繊大,3関西外語大
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10P20 |
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X線マイクロビームによる個別微粒子の蛍光X線定量分析
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○早川慎二郎1,東野達2,馬昌珍2,
廣川健1
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1広大院工,2京大院エネ
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