| 10P21 |
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X線散乱測定によるInP(001)表面ステップ構造の解析
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〇川村朋晃1，渡辺義夫1，Satyaban Bhunia1,
藤川誠司2，内田和男3，徳島健志2,
松井純爾2，篭島靖2，津坂佳幸2
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1NTT，2姫工大，3電通大
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| 10P22 |
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GaAs(001)2×4表面のドメイン境界によるX線回折効果
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〇高橋正光1，米田安宏1，山本直昌2，
水木純一郎1
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1原研関西，2姫工大理
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| 10P23 |
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サブミクロンビームX線回折によるInGaAsP選択成長層の歪分布測定
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〇木村滋1，篭島靖2，泉弘一3，
津坂佳幸2，松井純爾2
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1JASRI，2姫工大院理，3NEC基礎研
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| 10P24 |
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SR白色X線トポグラフィによる
3C-SiC/Siチャネルエピタキシャル界面のキャラクタリゼーション
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○平井敦彦1,2，佐々木信3,4，西口太郎4，
古庄智明4，奥井陽一4，田中英樹4，
古都秀次4，西野茂弘4
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1エックスレイプレシジョン，2京都工繊大VL，3シクスオン，
4京都工繊大工芸
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| 10P25 |
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X線反射率測定を用いたMOVPE成長表面の
in situ評価 −InP表面上のP原子の吸着過程−
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〇渡辺義夫1，川村朋晃1，Satyaban Bhunia1，
藤川誠司2，内田和男3，徳島健志2，
松井純爾2，篭島靖2，津坂佳幸2
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1NTT物性基礎研，2姫工大理，3電通大工
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| 10P26 |
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X線反射率法を用いたポリスチレンの表面ガラス転移の観察
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北原周，井上公治，吉川寛之，松下聖彦，上石直哉，〇高橋功
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関学大理工
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| 10P27 |
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透過型反射率法による固体/固体界面構造の評価
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井上公治，吉川寛之，松下聖彦，中林史智，北原周，○高橋功
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関学大理工
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| 10P28 |
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アルキル鎖とフルオロアルキル鎖からなる
共重合脂肪族ポリエステルにおける融点直下の構造変化
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〇佐々木園1，今田裕士1，Joel SCHALL2，
Shaw Ling HSU2，Jacques PENELLE2，加藤健一3，
高田昌樹3,4，高原淳5，梶山千里6
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1九大院工，2マサチューセッツ大，3JASRI，
4名大院工，5九大有機基礎研，6九大
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| 10P29 |
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視斜角入射X線回折法によるポリエチレン薄膜表面の結晶構造評価
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○佐々木園1，矢可部公彦1，坂田修身2，
高原淳3，梶山千里4
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1九大院工，2JASRI，3九大有機基礎研，
4九大
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| 10P30 |
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高分子繊維紡糸過程における構造形成のその場観察
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〇小寺賢1，中前勝彦1，村瀬浩貴2，
大田康雄2
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1JASRI，2東洋紡総研
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| 10P31 |
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動力学的回折を利用したX線パラメトリック変換
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〇野島昭信1，依田芳卓2，野積洋介1，
高橋敏男1
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1東大物性研，2JASRI
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| 10P32 |
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スメクティック液晶電傾効果における局所層構造応答
―マイクロビームX線回折法―
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○高橋由美子1*，飯田厚夫2，高西陽一3，
中田未知3，利光めぐみ3，石川謙3，
竹添秀男3
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1総研大，2KEK-PF，3東工大工，
*現：日大理工
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| 10P33 |
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低速育成CZ-Si結晶中の
grown-in欠陥へのボロンドープ効果とリンドープ効果の比較
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○出作雅幸1，石川賢一郎1，飯田敏1，
阿部孝夫2，河田洋3
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1富山大理，2信越半導体，3KEK-PF
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| 10P34 |
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X線共鳴散乱トポグラフによるバーガーズベクトルの方向決定
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〇根岸利一郎1，周聖明1，吉沢正美1，
深町共栄1，松本勲2，川村隆明3
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1埼玉工大，2KEK-PF，3山梨大
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| 10P35 |
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平面波放射光トポグラフィによるシリコン結晶中grown-in欠陥の観察
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〇飯田敏1, 前浜剛広2, 松井純爾3,
出作雅幸1, 小寺浩之1, 阿部和之1,
梶原堅太郎4
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1富山大理, 2琉球大工, 3姫工大理,
4JASRI
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| 10P36 |
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LTP IIによるベント・ミラーの特性評価
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○蒲地昇1，遠藤敬介1，大橋治彦2，
石川哲也3
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1トヤマ，2JASRI，3理研
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| 10P37 |
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SR-平面波トポグラフによるSiCウェハの結晶欠陥評価
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〇上村重明1，工藤喜弘2，上原康3，
三上朗4，米山明男5，田沼良平6，
大森廣文7，広瀬美治8，出口博史9，
野口真一10，鎌田功穂10
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1SES，2ソニー，3三菱電機，
4三洋電機，5日立，6富士電機総研，
7東芝，8豊田中研，9関西電力，
10電力中研
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| 10P38 |
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超平面波条件(Dq=0.08")での
X線ペンデルレースング干渉縞の異常振動の観測
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〇吉村順一1，平野馨一2
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1山梨大工，2KEK-PF
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| 10P39 |
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Si単結晶インゴットのX線トポグラフィ
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〇川戸清爾1，太子敏則2，干川圭吾2，
飯田敏3，山口聡3，出作雅幸3，
梶原堅太郎4，鈴木芳文5，近浦吉則5，
梅野正隆6
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1理学電機，2信州大教，3富山大理，
4JASRI，5九工大工，6阪大院
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| 10P40 |
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異常な干渉縞と2結合ペンデル縞
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赤川琢哉1，〇深町共栄1，根岸利一郎1，
吉沢正美1，周聖明1，川村隆明2
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1埼玉工大，2山梨大
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| 10P41 |
|
モリブデン酸化物MoO3の電子密度レベルでの結晶構造解析
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○黒岩芳弘1，佐藤宣史1，青柳忍1，
澤田昭勝1，根岸彩子2，根岸寛2
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1岡山大理，2広大院先端物質
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| 10P42 |
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La0.5Sr0.5MnO3薄膜中の格子歪の観測
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〇大隅寛幸1，池田直1，水牧仁一朗1，
和泉真昌2
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1SPring-8，2東大先端研
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| 10P43 |
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分子性伝導体DCNQI2Cuにおける
電荷秩序転移の共鳴散乱による観測
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○田崎遼子1, 若林裕助2, 澤博2,
加藤礼三3
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1千葉大自然，2KE-PF，3理研
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| 10P44 |
|
ATS散乱における散乱因子の異方性の起源
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○若林裕助1，澤博1, 中村優男2，
和泉真3，宮野健次郎3, 村上洋一4
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1KEK-PF，2東大院工, 3先端研,
4東北大理
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| 10P45 |
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YFe2O4の逐次相転移
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〇池田直1，森茂生2
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1SPring-8，2大阪府大
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| 10P46 |
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有機伝導体l-(BETS)2
FeCl4の相転移と格子定数の温度変化
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〇野田幸男1，小宮山聰1，渡邉真史1，
鬼柳亮嗣1，根岸栄一2，豊田直樹2
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1東北大多元研，2東北大院理
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| 10P47 |
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放射光を用いた強誘電体のドメイン観察
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〇米田安宏1,2，香村芳樹1,3，鈴木芳生1,4，
濱崎真一5，高重正明6
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1SPring-8，2原研，3理研，
4JASRI，5福島高専，6いわき明星大
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| 10P48 |
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液体マグネシウムのミクロダイナミクス
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〇川北至信1，細川伸也2，大嶋浩嗣1，
榎崎豪1，武田信一1，W.-C. Pilgrim2，
A. Baron3，田中良和4，筒井智嗣3
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1九大院理，2マールブルク大，3SPring-8，
4理研
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| 10P49 |
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X線回折による溶融物質の物性測定手法の開発
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〇坂井一郎1，村井健介2，梅咲則正3，
本間徹生3，北野顕子3
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1広大放射光，2産総研，3SPring-8
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| 10P50 |
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マイクロビームを用いた高分子材料の構造
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〇小寺賢1，中前勝彦1，西野孝2，
横山和司3，篭島靖4，新見敏弘4，
小山貴久4，松井純爾4
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1JASRI，2神戸大工，3ひょうご科学技術協会，
4姫工大理
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| 10P51 |
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斜入射及び全反射磁気コンプトンプロファイル測定法の開発
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〇櫻井浩1，伊藤文武1，大田実1，
高野勝昌1，劉小晰2，河田洋3
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1広大放射光，2産総研，3SPring-8
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| 10P52 |
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時間分散型Ｘ線回折法によるレーザー誘起結晶格子膨張過程の観測
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〇田中義人1，村木聡2，原徹1,3，
北村英男1,3，石川哲也1,3
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1理研，2姫工大院理，3JASRI
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| 10P53 |
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X線ポリゴンミラーによる角度位置の較正法
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〇張小威1,2，杉山弘1,2，安藤正海1,2
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1KEK-PF，2総研大
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| 10P54 |
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中尺アンジュレータビームライン(BL20XU)を用いた極小角X線散乱実験
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〇八木直人1，竹中幹人2，井上勝晶1
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1JASRI，2京大院工
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| 10P55 |
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フレネルゾーンプレート集光光学系を利用した回折speckle実験
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〇鈴木拓1，鈴木芳生2，高野秀和2，
上杉健太朗2，竹内晃久2，辛埴3
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1北九市大国環工，2JASRI，3理研
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| 10P56 |
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円筒鏡型電子分析器の高耐圧化と核共鳴内部転換電子分光法への応用
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〇河内泰三1，松本益明1，Markus Wilde1，
福谷克之1，岡野達雄1，岸本俊二2，
張小威2，依田芳卓3
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1東大生研，2KEK-PF，3JASRI
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| 10P57 |
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nsecオーダーで磁化状態が変化する鉄ボレート単結晶の
ストロボX線トポグラフィー
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〇三井隆也1，武居文彦2，今井康彦3，
菊田惺志3
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1原研，2クリスタルシステム，3JASRI
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