日本放射光学会誌


Vol.18,No.4/July.2005
【表紙の説明】垂直磁気記録方式は、次世代の超高密度磁気記録技術として30年以上も前に提唱されていたが技術的困難から応用されずにいた。 ごく最近になりこの方式の実用化がついに実現され、特性の優れた磁気記録媒体材料の開発が望まれている。 媒体材料の磁気的性質は構成元素のミクロスコピックな性質が複雑に絡み合って発現しているが、従来の材料開発においてはマクロスコピックな特性評価が主である。 軟X線磁気円二色性測定はその元素・軌道選択性から構成元素ごとにミクロスコピックな磁気的性質を観測することができ、磁気媒体材料の特性の起源を探るのに適している。
　　　　　　
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 * 軟X線磁気円二色性分光で観る超高密度垂直磁気記録媒体・・安居院あかね, 水牧仁一朗, 朝日 透（p215）（8ページ、1,319k)

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     * 共鳴非弾性X線散乱の現状と将来展望・・・・・・・小谷章雄（p223）（15ページ、1,906k)

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 * ツインヘリカルアンジュレータによる円偏光の高速ヘリシティ反転を用いた軟X線円二色性測定・・・・・・・・・・室 隆桂之 （p238）（9ページ、1,699k)
 
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 * 電子ビームプロファイル診断のための２次元放射光干渉計・・・ 正木満博（p247）（11ページ、1,228k)
   
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* [ビームライン光学技術シリーズ（1）]　趣旨説明・・・・ 大橋治彦, 平野馨一（p258）（6ページ、1,511k)
   

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 * 2nd US-Japan Workshop on Synchrotron Radiation and Nanoscience報告・・・ 木村 滋, 大島行雄（p264）（2ページ、483k)
   
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     *掲示板　　*会告　　*行事予定　*日本の主な放射光施設のWeb Site 　　
     *賛助会員名簿　*編集者委員会、編集後記　　


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