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| 日本放射光学会誌 |
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| Vol.22,No5/Sept.2009 |
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| 【表紙の説明】 ピンポイント構造計測用精密回折計光学系の模式図(a)と実験ハッチ内の写真(b）。SPring-8 のヘリカルアンジュレータビームラインBL40XU で開発が進められている。実験ハッチ内には，上流から，X 線パルスセレクター，直接水冷チャネルカットSi(111)モノクロメータ，精密回折計システムが設置されている。 |
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* 反応現象のX 線ピンポイント構造計測—DVD 材料の光記録現象をSPring-8 で見る—
木村滋，田中義人，山田昇，高田昌樹（p.231）（10ページ、4,384k） |
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* 共鳴X 線回折を用いたキラリティー解析 田中良和，A. Chainani，辛埴（p.241）（8ページ、2,588k） |
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* X 線回折法を用いたハイブリッド型多孔性金属錯体の膜構造評価 古川修平，坂田修身（p.249）（7ページ、2,987k） |
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* ［検出器シリーズ(10)］イメージを写すⅢ（最新の2 次元検出器） 豊川秀訓，兵藤一行（p.256）（8ページ、2,816k） |
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