日本放射光学会誌

Vol.19,No1/Jan.2006

【表紙の説明】 X線回析顕微法は、X線結晶構造解析法を結晶以外の試料に拡張した、斬新な顕微法である。X線の短い波長と長いプロープ深さのため、他のいかなる顕微法でも困難な、試料内部構造の超高空間能観察を可能とする。実験では、微小試料にコヒーレントX線を照射し、回析強度を位相回復に必要なオーバーサンプリング条件を満たす様に逆空間の細かい間隔で測定する。回析データに反復的位相回復法を適用し、電子密度分布を再生する。
図は、SPring-8BL29XULで測定した窒素ガリウム粒子からのスペックル（斑点）状回析パターンと回析顕微法により再生した試料投影像、および計算データを用いたオーバーサンプリング条件の説明を示す。

　　　　　　

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* 2006年度会長挨拶・・・下村理（p.1）（2ページ、328k）
　　　

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　* X線回析顕微法の原理・・・西野吉則、石川哲也（p.3）（12ページ、1150 k）

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　　* 共鳴X線散乱で見つけた誘電体・・・池田直（p.15）（5ページ、912 k）

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	* 軟X線干渉法によるEUV投影光学系の波面計測　新部正人（p.20）（7ページ、1480k）

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* 挿入光源の誤差磁場による軌道変動の高精度補正法の開発
　　田中均、高雄勝、松下智裕、青柳秀樹、竹内政雄、安居院あかね、
　　　吉越章隆、中谷健（p.27）（6ページ、7000k）

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* [ビームライン光学技術シリーズ（4）]　光のエネルギーを切り出す（基礎偏）
　　　繁政英治、矢橋牧名（p.33）（8ページ、1520k）

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* 27th International Free Electron Laser Conference（FEL2005）報告
　　　田中隆次（p.41）（2ページ、380k）

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*2005年度幹事報告　*掲示板　*行事予定　*日本の主な放射光施設のWeb Site 　　
*賛助会員名簿　*学会誌「放射光」投稿規程　*編集者委員会、編集後記　　